丹東百特儀器有限公司新發(fā)布的BeNano 180 Zeta Max納米粒度及Zeta電位儀，通過創(chuàng)新性地整合沉降法檢測技術(shù)，成功將納米粒度儀的檢測范圍擴展至微米級領(lǐng)域。這一技術(shù)突破有效彌補了傳統(tǒng)動態(tài)光散射技術(shù)在大顆粒檢測方面的局限性，為科研和工業(yè)領(lǐng)域提供了更全面的顆粒表征解決方案。

技術(shù)原理創(chuàng)新
該儀器在0°角位置設(shè)置了高靈敏度PD檢測器，通過實時監(jiān)測透射光強隨時間的變化，基于斯托克斯方程精確計算顆粒的粒徑分布。測試過程中需要輸入分散介質(zhì)的折射率、密度、粘度等關(guān)鍵參數(shù)，以及樣品本身的物理特性數(shù)據(jù)。這種沉降法測得的是顆粒的斯托克斯徑，特別適合幾微米至幾十微米范圍內(nèi)的顆粒檢測。

實驗驗證
研究團隊選取了三種典型材料進行對比測試：

1. 硅酸鹽顆粒

2. PMMA顆粒

3. 氧化鋁顆粒

實驗采用嚴格的對比方法：

• 使用Bettersize2600激光粒度分析儀獲取基準D50值

• 通過BetterPyc 380多功能真密度儀測定樣品密度

• 采用標準化的樣品制備流程：樣品與水按比例混合后置于10mm光程方形樣品池

• 測試前進行120秒恒溫平衡，確保溫度穩(wěn)定性

數(shù)據(jù)對比分析
測試結(jié)果顯示（見表1），在2-60μm范圍內(nèi)，BeNano 180 Zeta Max通過沉降法獲得的斯托克斯徑D50值與激光粒度儀測得的體積中徑D50值具有高度一致性。這一重要發(fā)現(xiàn)證實了該儀器在微米級顆粒檢測方面的可靠性和準確性。

技術(shù)優(yōu)勢與應(yīng)用價值
此項創(chuàng)新技術(shù)具有以下顯著特點：

1. 檢測范圍廣：實現(xiàn)納米至微米級別的全范圍覆蓋

2. 數(shù)據(jù)精準：與傳統(tǒng)激光衍射法結(jié)果高度吻合

3. 操作簡便：標準化的測試流程確保結(jié)果可重復(fù)性

4. 應(yīng)用廣泛：適用于多種材質(zhì)的微米級顆粒檢測

這一技術(shù)突破不僅拓展了納米粒度儀的應(yīng)用領(lǐng)域，更為材料科學(xué)、制藥工業(yè)等需要精確顆粒表征的領(lǐng)域提供了新的檢測手段。百特儀器持續(xù)的技術(shù)創(chuàng)新再次證明了其在顆粒表征領(lǐng)域的地位。